SANKO山高薄膜厚度計 鉛筆劃痕測試儀 product
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product詳細介紹
SANKO山高 UDM-1100超聲波測厚儀
特征
本測試儀通過使用已知硬度的鉛筆芯在涂層上劃痕,并測定劃痕程度,來評估涂層的硬度和附著強度(阻力、塑性變形、內聚破壞等)。它
具有多種標準化測試條件的功能,使其易于使用和操作。
符合JIS K5600-5-4、ISO/DIS 15184和ASTM 3363標準。
深圳市京都玉崎電子有限公司
yyf@tamasaki.com
深圳市龍華新區(qū)梅隴路906號電商集團3樓整層
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